伴隨著現(xiàn)代電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高,結(jié)構(gòu)精細化以及工序多樣化是不可避免的,制造工藝也越來越復(fù)雜,這時候就會出現(xiàn)一些品質(zhì)上的缺陷。這時就需要高溫老化試驗箱來對這些產(chǎn)品進行測試。在生產(chǎn)和制造過程中,由于設(shè)計不合理、原材料或工藝措施等原因而導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問題可歸納為兩類:
1、產(chǎn)品性能參數(shù)沒有達到標(biāo)準(zhǔn)不符合使用要求。
2、常規(guī)檢測手段短時間內(nèi)無法檢測出此類缺陷的潛在缺陷,需要在長期使用與應(yīng)用過程中逐步檢測問題才能暴露出來,如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、晶片與管殼熱阻匹配不良等。通常這類缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時左右,才能*暴露出缺陷。
很明顯,每個零件測試1000小時是不現(xiàn)實的,所以需要對測試產(chǎn)品施加熱應(yīng)力和偏壓,比如使用高溫老化試驗箱進行高溫動力應(yīng)力測試,以加速這種缺陷的早期暴露。即對電子產(chǎn)品施以熱、電、機等綜合外力,模擬嚴酷的工作環(huán)境,消除各種產(chǎn)品在加工時產(chǎn)生的應(yīng)力及殘留溶劑等物質(zhì),使?jié)摲怨收咸崆鞍l(fā)生,在短時間內(nèi)使產(chǎn)品通過失效特性初期階段,然后提高產(chǎn)品的可靠性能。
經(jīng)過高溫老化試驗箱的零件可使其在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)缺陷、焊接、裝配等安全隱患提前暴露,老化后電氣參數(shù)測量、過濾掉那些失效或變值的元件,使產(chǎn)品盡早失效,在正常使用中盡可能消滅,從而確保出廠的產(chǎn)品能夠經(jīng)得起時間的考驗。